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E+H音叉物位計FTM51系列產品正宗

E+H音叉物位計FTM51系列產品正宗,FTM51系列是一款牢固耐用的音叉料位開關,適用于貯倉中固體細料或低密度的松散固體粉料。FTM50系列通過了粉塵、易燃氣體等危險區(qū)域應用的多項認證。供選擇的有拋光叉體、卡箍過程連接、標準涂層叉體、鋁制外殼和法蘭連接;280°C (540°F)等級標準叉體和鋁制外殼。典型應用包括:谷物、面粉、可可豆、砂糖、動物飼料、清潔劑、染色粉、白堊、石膏等

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-01-16
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詳細介紹

E+H音叉物位計FTM51系列產品正宗
德國E+H音叉物位計FTM51系列是一款堅固耐用的音叉限位檢測開關,適用于貯倉中的固體細料或低密度的松散固體粉料。用途廣泛,取得了粉塵防爆認證。拋光叉體、卡箍過程連接、不銹鋼外殼或者鋁制外殼和涂層叉體.堅固耐用的限位檢測開關,帶延伸管,用于固體細料以及爆炸危險區(qū)域.
FTM51系列E+H音叉物位計典型應用包括:谷物、面粉、可可豆、砂糖、動物飼料、染料粉、白堊.
E+H音叉物位計優(yōu)勢:
達到IEC 61508的SIL2級
無機械活動件、無需維護,無磨損,使用壽命長。
不受外部振動和粘附影響,操作無需維護,不受固體塊料影響
配備多種電子插件類型如NAMUR, 繼電器、半導體晶閘管、PFM信號輸出,實現(xiàn)與各個過程控制系統(tǒng)的連接
粘附和磨損顯示功能可選,密度設置和開關延遲功能可選
傳感器可選帶涂層或拋光型
E+H音叉物位計應用領域;
限位檢測開關,用于固體細料和粉料檢測。
過程連接:螺紋、法蘭和衛(wèi)生型連接(卡箍)
溫度: -50 ~ +280°C (-60 ~ +540°F)
壓力: -1 ~ +25bar (-14.5 ~ +360psi)
傳感器長度: 300mm ~ 4,000mm
傳感器材質: 316L (3,2?m, 0,8 ?m, PTFE 涂層, ETFE 涂層)
防爆認證
特點/應用 細谷粒及粉末狀顆粒的限位開關;叉型探頭;無需標定;不受粘附及外部振動的影響;外部讀數(shù),管型
特性 粘附檢測及腐蝕檢測;分離型;溫度型可選;SIL 2
電源/通信 三線制DC PNP;兩線制AC:19...253V AC / 19V...55V DC;2個繼電器觸點;8/16mA;NAMUR;PFM
環(huán)境溫度 -50 ... 70℃
過程溫度 -50 …280℃
過程絕壓/zui大過壓界限 真空可達 25 bar
zui小被測介質密度 10 g/l ( 可選擇8 g/l )
接觸介質部件 可選探頭:316L 3,2um、316L 0,8um、316L PTFE涂層(避免粘附);探頭纜:PUR、Silicon
過程連接 "螺紋:1 1/4" NPT、1 1/2" DIN2999、1 1/2" NPT;EN法蘭:DN50...DN100;ANSI法蘭:2"...4";JIS法蘭:50A...100A"
衛(wèi)生型過程連接 ISO2854三夾頭
傳感器長度 300 ... 4000mm ( 可選6000mm)
輸出 兩線制DC PNP;AC晶閘管;DPDT繼電器;8/16mA,NAMUR,PFM
證書和認證 ATEX、FM、CSA、SIL
Safety approvals SIL
Design approvals EN 10204-3.1
可選項 玻璃罩,溫度隔離區(qū),EN10204-3.1
組件 PFM: FTL325P, FTL375P;NAMUR: FTL325N, FTL375N
應用局限
顆粒尺寸 > 10mm  E+H音叉物位計FTM51系列產品正宗
E+H物位計的產品性能
兩線制技術,經濟型
非接觸測量:不受介質特性的影響
通過數(shù)文顯示菜單輕松進行現(xiàn)場操作
通過操作軟件實現(xiàn)簡便的組態(tài)、文件編制及診斷
具備2個頻率范圍-約6GHz及26GHz:無干擾,適用于任何應用場合
通信協(xié)議及基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
高溫:適用于高達+200℃的過程溫度,當采用高溫天線時可達+400℃
帶有屏蔽管的桿式天線:可在狹窄的加接管及有冷凝和粘附的加接管內可靠測量
E+H物位計是利用超聲波反射原理檢測常壓或低壓容器內液體液位或固體料位的非接觸式物位測量儀表,可廣泛應用于化工、電力、冶金、輕工、水處理等工業(yè)或民用部門的各種液體或固體物位測量,并可以對明渠、堰中的流量進行測量。
E+H物位計采用線性的調制的高頻信號,一般都是采用10ghz或24ghz微波信號。它是一種基于復雜數(shù)學公式的間接測量方法,由頻譜計算出物位距離。天線發(fā)射出被線性調制的連續(xù)高頻微波信號并進行掃描,同時接收返回信號。發(fā)射微波信號和返回的微波信號之間的頻率差與到介質表面的距離成一定比例關系。

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